میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) برای بررسی خواص و ساختار سطحی مواد در ابعاد نانومتری به كار می‌رود. انعطاف‌پذیری، سیگنالهای بالقوه متعدد، و امكان عملكرد دستگاه در مدهای مختلف محققین را در بررسی سطوح گوناگون، تحت شرایط محیطی متفاوت توانمند ساخته است. بر خلاف اكثر روشهای بررسی خواص سطوح، با میکروسکوپ نیروی اتمی محدودیت اساسی بر روی نوع سطح و محیط آن وجود ندارد. با این نانوسکوپ امكان بررسی سطوح رسانا یا عایق، نرم یا سخت، منسجم یا پودری، بیولوژیك و آلی یا غیرآلی وجود دارد. خواص قابل اندازه‌گیری با نانوسکوپ آراپژوهش شامل مورفولوژی هندسی، توزیع چسبندگی، اصطكاك، ناخالصی سطحی،  جنس نقاط مختلف سطح، كشسانی، خواص مغناطیسی، بزرگی پیوندهای شیمیایی، توزیع بارهای الكتریكی سطحی و قطبیت الكتریكی نقاط مختلف می‌باشد.

در عمل از قابلت های میکروسکوپ نیروی اتمی برای بررسی ویژگی‌هایی همچون : خوردگی، تمیزی، یكنواختی، زبری، چسبندگی، اصطكاك و اندازه استفاده می شود.

پارامترهای قابل اندازه گیری:

1-     بررسی صافی سطوح

2-     بررسی خواص مغناطیسی مواد

3-     کنترل کیفی سطوح پوشش داده شده