زمینه های تخصصی: تصویربرداری از سطوح مواد در مقیاس نانومتری، مطالعه سطح نانومواد از منظر توپولوژی و ریخت شناسی سطح و همچنین آنالیز عنصری سطحی با استفاده از آشکارساز طیف نگاری پراکنش انرژی پرتو X (EDS)